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EnglishIsa, F., Pezzoli, F., Marzegalli, A., Bergamaschini, R., Salvalaglio, M., Falub, C., et al. (2013). Dislocation assessment and their elimination in high-quality Ge microcrystals integrated on deeply patterned Si (001) substrates. Intervento presentato a: E-MRS 2013 Fall Meeting, Warsaw, Polonia.
| Citazione: | Isa, F., Pezzoli, F., Marzegalli, A., Bergamaschini, R., Salvalaglio, M., Falub, C., et al. (2013). Dislocation assessment and their elimination in high-quality Ge microcrystals integrated on deeply patterned Si (001) substrates. Intervento presentato a: E-MRS 2013 Fall Meeting, Warsaw, Polonia. |
| Tipo: | abstract + slide |
| Carattere della pubblicazione: | Scientifica |
| Presenza di un coautore afferente ad Istituzioni straniere: | Si |
| Titolo: | Dislocation assessment and their elimination in high-quality Ge microcrystals integrated on deeply patterned Si (001) substrates |
| Autori: | Isa, F; Pezzoli, F; Marzegalli, A; Bergamaschini, R; Salvalaglio, M; Falub, C; Müller, E; Taboada, A; Groiss, H; Kreiliger, T; Isella, G; Montalenti, F; Grilli, E; Guzzi, M; Niedermann, P; Schäffler, F; von Kaenel, H; Miglio, L |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 16-set-2013 |
| Lingua: | English |
| Nome del convegno: | E-MRS 2013 Fall Meeting |
| Appare nelle tipologie: | 02 - Intervento a convegno |
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