Isa, F., Pezzoli, F., Marzegalli, A., Bergamaschini, R., Salvalaglio, M., Falub, C., et al. (2013). Dislocation assessment and their elimination in high-quality Ge microcrystals integrated on deeply patterned Si (001) substrates. Intervento presentato a: E-MRS 2013 Fall Meeting, Warsaw, Polonia.
Citazione: | Isa, F., Pezzoli, F., Marzegalli, A., Bergamaschini, R., Salvalaglio, M., Falub, C., et al. (2013). Dislocation assessment and their elimination in high-quality Ge microcrystals integrated on deeply patterned Si (001) substrates. Intervento presentato a: E-MRS 2013 Fall Meeting, Warsaw, Polonia. | |
Tipo: | abstract + slide | |
Carattere della pubblicazione: | Scientifica | |
Presenza di un coautore afferente ad Istituzioni straniere: | Si | |
Titolo: | Dislocation assessment and their elimination in high-quality Ge microcrystals integrated on deeply patterned Si (001) substrates | |
Autori: | Isa, F; Pezzoli, F; Marzegalli, A; Bergamaschini, R; Salvalaglio, M; Falub, C; Müller, E; Taboada, A; Groiss, H; Kreiliger, T; Isella, G; Montalenti, F; Grilli, E; Guzzi, M; Niedermann, P; Schäffler, F; von Kaenel, H; Miglio, L | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 16-set-2013 | |
Lingua: | English | |
Nome del convegno: | E-MRS 2013 Fall Meeting | |
Appare nelle tipologie: | 02 - Intervento a convegno |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.