Miglio, L., Scalise, E., Marzegalli, A., Glas, F. (2023). Defects in hexagonal Si-Ge nanowires: the extended I3 vs a “virtual” point-like defect. Intervento presentato a: International workshop on 2H Hex-SiGe and related materials, Eindhoven, Netherlands.
Defects in hexagonal Si-Ge nanowires: the extended I3 vs a “virtual” point-like defect
Miglio, L
;Scalise, E;Marzegalli, A;
2023
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