Miglio, L., Scalise, E., Marzegalli, A., Glas, F. (2022). Modelling the structural origin of defects in hexagonal Ge nanowires: the extended I3 vs a point-like defect. Intervento presentato a: GADEST-19. 19th Conference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology, Mondsee, Austria.
Modelling the structural origin of defects in hexagonal Ge nanowires: the extended I3 vs a point-like defect
Miglio, L
;Scalise, E;Marzegalli, A;
2022
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