IRIS – Institutional Research Information System
IRIS è il sistema di gestione della ricerca dell’Università degli Studi di Milano-Bicocca.Il repository BOA è il modulo del sistema dedicato alla raccolta e alla disseminazione della produzione scientifica di Ateneo. Le pubblicazioni sono ricercabili per parola chiave attraverso il box nella barra orizzontale in alto oppure, mediante il pulsante Sfoglia, per "Afferenza", "Autore", "Titolo", "Tipologia" o "Settore scientifico-disciplinare".
IRIS contiene inoltre alcuni moduli dedicati alla registrazione dei progetti e dei contratti, e alla reportistica avanzata per le attività di valutazione della ricerca
EnglishThe problem of in situ monitoring the film thickness by quartz microbalance during vacuum deposition of organic-molecular semiconductors is addressed herein by setting a procedure for sensor calibration based on ex situ analysis of the deposited molecular film by atomic-force microscopy measurements. The procedure is applied to the growth of molecular-organic thin films on silica. Some physical parameters of the materials are deduced. (C) 2004 American Vacuum Society.
Campione, M., Cartotti, M., Pinotti, E., Sassella, A., & Borghesi, A. (2004). Thickness measurements by quartz microbalance during thin-film growth by organic-molecular-beam deposition. JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY. A, AN INTERNATIONAL JOURNAL DEVOTED TO VACUUM, SURFACES, AND FILMS, 22(3), 482-486 [10.1116/1.1690249].
| Citazione: | Campione, M., Cartotti, M., Pinotti, E., Sassella, A., & Borghesi, A. (2004). Thickness measurements by quartz microbalance during thin-film growth by organic-molecular-beam deposition. JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY. A, AN INTERNATIONAL JOURNAL DEVOTED TO VACUUM, SURFACES, AND FILMS, 22(3), 482-486 [10.1116/1.1690249]. | |
| Tipo: | Articolo in rivista - Articolo scientifico | |
| Carattere della pubblicazione: | Scientifica | |
| Titolo: | Thickness measurements by quartz microbalance during thin-film growth by organic-molecular-beam deposition | |
| Autori: | Campione, M; Cartotti, M; Pinotti, E; Sassella, A; Borghesi, A | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | mag-2004 | |
| Lingua: | English | |
| Rivista: | JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY. A, AN INTERNATIONAL JOURNAL DEVOTED TO VACUUM, SURFACES, AND FILMS | |
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1116/1.1690249 | |
| Appare nelle tipologie: | 01 - Articolo su rivista |
File in questo prodotto:
Copyright © 2022