Attenzione: i dati modificati non sono ancora stati salvati. Per confermare inserimenti o cancellazioni di voci è necessario confermare con il tasto SALVA LE MODIFICHE in fondo alla pagina
Bicocca Open Archive
In this paper, an experimental validation about the benefit of the input harmonic manipulation on the performance of a microwave power amplifier is presented. With the support of low-frequency measurements on a 0.5×1000 μm2 GaN HEMT, the importance of synthesizing the correct input waveform at the intrinsic section of the device is highlighted. A class-AB tuned-load amplifier has been considered as a case study.
Bosi, G., Raffo, A., Vannini, G., Cipriani, E., Colantonio, P., Giannini, F. (2014). Gate waveform effects on high-efficiency PA design: An experimental validation. In European Microwave Week 2014: "Connecting the Future", EuMW 2014 - Conference Proceedings; EuMIC 2014: 9th European Microwave Integrated Circuits Conference (pp.329-332). Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. [10.1109/EuMIC.2014.6997859].
Gate waveform effects on high-efficiency PA design: An experimental validation
In this paper, an experimental validation about the benefit of the input harmonic manipulation on the performance of a microwave power amplifier is presented. With the support of low-frequency measurements on a 0.5×1000 μm2 GaN HEMT, the importance of synthesizing the correct input waveform at the intrinsic section of the device is highlighted. A class-AB tuned-load amplifier has been considered as a case study.
9th European Microwave Integrated Circuits Conference, EuMIC 2014 - Held as Part of the 17th European Microwave Week, EuMW 2014 - 6 October 2014 through 7 October 2014
2014
European Microwave Week 2014: "Connecting the Future", EuMW 2014 - Conference Proceedings; EuMIC 2014: 9th European Microwave Integrated Circuits Conference
Bosi, G., Raffo, A., Vannini, G., Cipriani, E., Colantonio, P., Giannini, F. (2014). Gate waveform effects on high-efficiency PA design: An experimental validation. In European Microwave Week 2014: "Connecting the Future", EuMW 2014 - Conference Proceedings; EuMIC 2014: 9th European Microwave Integrated Circuits Conference (pp.329-332). Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. [10.1109/EuMIC.2014.6997859].
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/10281/522052
Citazioni
4
11
Social impact
Conferma cancellazione
Sei sicuro che questo prodotto debba essere cancellato?
simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 598/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.