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EnglishNarducci, D., Girardi, G., Romalelli, C., & Pizzini, S. (1995). Analysis of the High-Temperature Degradation of Gas Sensors Based on Oxide Semiconductors. VUOTO, 24, 20-23.
| Citazione: | Narducci, D., Girardi, G., Romalelli, C., & Pizzini, S. (1995). Analysis of the High-Temperature Degradation of Gas Sensors Based on Oxide Semiconductors. VUOTO, 24, 20-23. |
| Tipo: | Articolo in rivista - Articolo scientifico |
| Carattere della pubblicazione: | Scientifica |
| Titolo: | Analysis of the High-Temperature Degradation of Gas Sensors Based on Oxide Semiconductors |
| Autori: | Narducci, D; Girardi, G; Romalelli, C; Pizzini, S |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 1995 |
| Lingua: | English |
| Rivista: | VUOTO |
| Appare nelle tipologie: | 01 - Articolo su rivista |
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