IRIS – Institutional Research Information System
IRIS è il sistema di gestione della ricerca dell’Università degli Studi di Milano-Bicocca.Il repository BOA è il modulo del sistema dedicato alla raccolta e alla disseminazione della produzione scientifica di Ateneo. Le pubblicazioni sono ricercabili per parola chiave attraverso il box nella barra orizzontale in alto oppure, mediante il pulsante Sfoglia, per "Afferenza", "Autore", "Titolo", "Tipologia" o "Settore scientifico-disciplinare".
IRIS contiene inoltre alcuni moduli dedicati alla registrazione dei progetti e dei contratti, e alla reportistica avanzata per le attività di valutazione della ricerca
EnglishIn this work, we report and discuss the results of minority carriers diffusion length measurements carried out in order to quantify the radiation damage induced by electron irradiation of X-rays detectors based on a metal–silicon carbide junction.The devices examined consisted of 4H-SiC n-type epitaxial layers on 4H-SiC nq-type substrate wafers, on which Schottky contacts were formed by gold deposition.The minority carriers diffusion length, extracted from the results of photocurrent measurements using a fitting procedure, was shown to exhibit a strong decrease with the radiation dose.
Le Donne, A., Binetti, S., & Pizzini, S. (2005). Electrical and optical characterization of electron- irradiated 4H-SiC epitaxial layer annealed at low temperature. DIAMOND AND RELATED MATERIALS, 14, 1150 [10.1016/j.diamond.2004.10.020].
| Citazione: | Le Donne, A., Binetti, S., & Pizzini, S. (2005). Electrical and optical characterization of electron- irradiated 4H-SiC epitaxial layer annealed at low temperature. DIAMOND AND RELATED MATERIALS, 14, 1150 [10.1016/j.diamond.2004.10.020]. | |
| Tipo: | Articolo in rivista - Articolo scientifico | |
| Carattere della pubblicazione: | Scientifica | |
| Titolo: | Electrical and optical characterization of electron- irradiated 4H-SiC epitaxial layer annealed at low temperature | |
| Autori: | Le Donne, A; Binetti, S; Pizzini, S | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | 2005 | |
| Lingua: | English | |
| Rivista: | DIAMOND AND RELATED MATERIALS | |
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1016/j.diamond.2004.10.020 | |
| Appare nelle tipologie: | 01 - Articolo su rivista |
File in questo prodotto:
Copyright © 2022