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EnglishExtending the functionality of ubiquitous Si-based microelectronic devices often requires combining materials with different lattice parameters and thermal expansion coefficients. In this paper, scanning X-ray nanodiffraction is used to map the lattice bending produced by thermal strain relaxation in heteroepitaxial Ge microcrystals of various heights grown on high aspect ratio Si pillars. The local crystal lattice tilt and curvature are obtained from experimental threedimensional reciprocal space maps and compared with diffraction patterns simulated by means of the finite element method. The simulations are in good agreement with the experimental data for various positions of the focused X-ray beam inside a Ge microcrystal. Both experiment and simulations reveal that the crystal lattice bending induced by thermal strain relaxation vanishes with increasing Ge crystal height.
Meduňa, M., Falub, C., Isa, F., Marzegalli, A., Chrastina, D., Isella, G., et al. (2016). Lattice bending in three-dimensional Ge microcrystals studied by X-ray nanodiffraction and modelling. JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, 49(3), 976-986.
| Citazione: | Meduňa, M., Falub, C., Isa, F., Marzegalli, A., Chrastina, D., Isella, G., et al. (2016). Lattice bending in three-dimensional Ge microcrystals studied by X-ray nanodiffraction and modelling. JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, 49(3), 976-986. | |
| Tipo: | Articolo in rivista - Articolo scientifico | |
| Carattere della pubblicazione: | Scientifica | |
| Presenza di un coautore afferente ad Istituzioni straniere: | Si | |
| Titolo: | Lattice bending in three-dimensional Ge microcrystals studied by X-ray nanodiffraction and modelling | |
| Autori: | Meduňa, M; Falub, C; Isa, F; Marzegalli, A; Chrastina, D; Isella, G; Miglio, L; Dommann, A; Von Känel, H | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | 2016 | |
| Lingua: | English | |
| Rivista: | JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY | |
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1107/S1600576716006397 | |
| Appare nelle tipologie: | 01 - Articolo su rivista |
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