GALIMBERTI, CHIARA
 Distribuzione geografica
Continente #
EU - Europa 293
NA - Nord America 143
AS - Asia 25
SA - Sud America 4
AF - Africa 1
Totale 466
Nazione #
IT - Italia 152
US - Stati Uniti d'America 141
DE - Germania 85
IE - Irlanda 20
SE - Svezia 19
HK - Hong Kong 9
FR - Francia 4
GB - Regno Unito 3
TR - Turchia 3
TW - Taiwan 3
CO - Colombia 2
ES - Italia 2
FI - Finlandia 2
PH - Filippine 2
SA - Arabia Saudita 2
SG - Singapore 2
BG - Bulgaria 1
BR - Brasile 1
CA - Canada 1
CH - Svizzera 1
CN - Cina 1
DZ - Algeria 1
IN - India 1
JP - Giappone 1
MX - Messico 1
NL - Olanda 1
PE - Perù 1
PL - Polonia 1
RO - Romania 1
UA - Ucraina 1
VN - Vietnam 1
Totale 466
Città #
Frankfurt am Main 69
Ann Arbor 63
Milan 31
Dublin 20
Fairfield 10
New York 10
Ashburn 8
Atlanta 8
Bologna 8
Hong Kong 6
Princeton 6
Rome 6
Schwarzenbruck 5
Wilmington 5
Cagliari 4
Cambridge 4
Novate Milanese 4
Bari 3
Brescia 3
Duncan 3
Esenyurt 3
Houston 3
Nichelino 3
Paris 3
Sovico 3
Taipei 3
Altamura 2
Besana in Brianza 2
Bovisio-Masciago 2
Capralba 2
Castrolibero 2
Dallas 2
Domodossola 2
Florence 2
Hamburg 2
Helsinki 2
Medellín 2
Piazzola sul Brenta 2
Pistoia 2
Pozzuoli 2
Riyadh 2
Rozzano 2
Trieste 2
Vasanello 2
Villar Dora 2
Andover 1
Boardman 1
Böblingen 1
Calapan 1
Candia Lomellina 1
Catania 1
Cattolica 1
Como 1
Delhi 1
Denver 1
Donostia / San Sebastian 1
Dresden 1
Esslingen am Neckar 1
Grafing 1
Guadalajara 1
Ho Chi Minh City 1
Kardzhali 1
Kwun Hang 1
Lawrence 1
Leiden 1
Lima 1
Los Angeles 1
Lugano 1
Murfreesboro 1
Nanjing 1
Naples 1
Piemonte 1
Ponte San Nicolo 1
Potsdam 1
Prato 1
Redmond 1
Reggio Emilia 1
San Diego 1
San Donato Milanese 1
San Francisco 1
San Giuliano Milanese 1
Sant'Elia Fiumerapido 1
Santos 1
Seattle 1
Tokyo 1
Toronto 1
Traversetolo 1
Turin 1
Windermere 1
Totale 376
Nome #
A Bayesian framework for structural learning of mixed graphical models 193
ADVANCED ANALYTICS AND MACHINE LEARNING FOR INDUSTRIAL MANUFACTURING APPLICATIONS 132
Identification of spatial defects in semiconductor manufacturing 89
Identifying and representing clusters of spatial defects in microelectronics planar artefacts 70
Totale 484
Categoria #
all - tutte 1.412
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 1.412


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2019/202017 0 0 0 0 0 0 0 4 4 3 1 5
2020/202114 2 0 0 2 1 0 5 0 3 0 0 1
2021/2022143 14 22 13 10 10 10 2 2 13 1 17 29
2022/2023167 27 24 19 9 15 18 3 11 11 7 14 9
2023/2024143 15 6 14 11 16 23 20 19 9 4 6 0
Totale 484