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We have examined the effects of embedded pitch adapters on signal formation in n-substrate silicon microstrip sensors with data from beam tests and simulation. According to simulation, the presence of the pitch adapter metal layer changes the electric field inside the sensor, resulting in slowed signal formation on the nearby strips and a pick-up effect on the pitch adapter. This can result in an inefficiency to detect particles passing through the pitch adapter region. All these effects have been observed in the beam test data.
Artuso, M., Betancourt, C., Bezshyiko, I., Blusk, S., Bruendler, R., Bugiel, S., et al. (2018). Signal coupling to embedded pitch adapters in silicon sensors. NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, 877, 252-258 [10.1016/j.nima.2017.09.039].
Signal coupling to embedded pitch adapters in silicon sensors
We have examined the effects of embedded pitch adapters on signal formation in n-substrate silicon microstrip sensors with data from beam tests and simulation. According to simulation, the presence of the pitch adapter metal layer changes the electric field inside the sensor, resulting in slowed signal formation on the nearby strips and a pick-up effect on the pitch adapter. This can result in an inefficiency to detect particles passing through the pitch adapter region. All these effects have been observed in the beam test data.
Artuso, M., Betancourt, C., Bezshyiko, I., Blusk, S., Bruendler, R., Bugiel, S., et al. (2018). Signal coupling to embedded pitch adapters in silicon sensors. NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, 877, 252-258 [10.1016/j.nima.2017.09.039].
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/10281/420768
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 598/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.