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We present the precision measurements of 11 years of daily cosmic electron fluxes in the rigidity interval from 1.00 to 41.9 GV based on 2.0×108 electrons collected with the Alpha Magnetic Spectrometer (AMS) aboard the International Space Station. The electron fluxes exhibit variations on multiple timescales. Recurrent electron flux variations with periods of 27 days, 13.5 days, and 9 days are observed. We find that the electron fluxes show distinctly different time variations from the proton fluxes. Remarkably, a hysteresis between the electron flux and the proton flux is observed with a significance of greater than 6σ at rigidities below 8.5 GV. Furthermore, significant structures in the electron-proton hysteresis are observed corresponding to sharp structures in both fluxes. This continuous daily electron data provide unique input to the understanding of the charge sign dependence of cosmic rays over an 11-year solar cycle.
Aguilar, M., Cavasonza, L., Ambrosi, G., Arruda, L., Attig, N., Bagwell, C., et al. (2023). Temporal Structures in Electron Spectra and Charge Sign Effects in Galactic Cosmic Rays. PHYSICAL REVIEW LETTERS, 13(16) [10.1103/PhysRevLett.130.161001].
Temporal Structures in Electron Spectra and Charge Sign Effects in Galactic Cosmic Rays
Aguilar, M.;Cavasonza, L. Ali;Ambrosi, G.;Arruda, L.;Attig, N.;Bagwell, C.;Barao, F.;Barrin, L.;Bartoloni, A.;Başeğmez-du Pree, S.;Battiston, R.;Behlmann, M.;Belyaev, N.;Berdugo, J.;Bertucci, B.;Bindi, V.;Bollweg, K.;Bolster, J.;Borgia, B.;Boschini, M. J.;Bourquin, M.;Bueno, E. F.;Burger, J.;Burger, W. J.;Burmeister, S.;Cai, X. D.;Capell, M.;Casaus, J.;Castellini, G.;Cervelli, F.;Chang, Y. H.;Chen, G. M.;Chen, G. R.;Chen, H. S.;Chen, Y.;Cheng, L.;Chou, H. Y.;Chouridou, S.;Choutko, V.;Chung, C. H.;Clark, C.;Coignet, G.;Consolandi, C.;Contin, A.;Corti, C.;Cui, Z.;Dadzie, K.;Dass, A.;Delgado, C.;Della Torre, S.;Demirköz, M. B.;Derome, L.;Di Falco, S.;Di Felice, V.;Díaz, C.;Dimiccoli, F.;von Doetinchem, P.;Dong, F.;Donnini, F.;Duranti, M.;Egorov, A.;Eline, A.;Faldi, F.;Feng, J.;Fiandrini, E.;Fisher, P.;Formato, V.;Freeman, C.;Gámez, C.;García-López, R. J.;Gargiulo, C.;Gast, H.;Gervasi, M.;Giovacchini, F.;Gómez-Coral, D. M.;Gong, J.;Goy, C.;Grabski, V.;Grandi, D.;Graziani, M.;Guracho, A. N.;Haino, S.;Han, K. C.;Hashmani, R. K.;He, Z. H.;Heber, B.;Hsieh, T. H.;Hu, J. Y.;Incagli, M.;Jang, W. Y.;Jia, Yi;Jinchi, H.;Karagöz, G.;Khiali, B.;Kim, G. N.;Kirn, Th.;Kounina, O.;Kounine, A.;Koutsenko, V.;Krasnopevtsev, D.;Kuhlman, A.;Kulemzin, A.;La Vacca, G.;Laudi, E.;Laurenti, G.;LaVecchia, G.;Lazzizzera, I.;Lee, H. T.;Lee, S. C.;Li, H. L.;Li, J. Q.;Li, M.;Li, Q.;Li, Q. Y.;Li, S.;Li, S. L.;Li, J. H.;Li, Z. H.;Liang, J.;Liang, M. J.;Light, C.;Lin, C. H.;Lippert, T.;Liu, J. H.;Lu, S. Q.;Lu, Y. S.;Luebelsmeyer, K.;Luo, J. Z.;Luo, Xi;Machate, F.;Mañá, C.;Marín, J.;Marquardt, J.;Martin, T.;Martínez, G.;Masi, N.;Maurin, D.;Medvedeva, T.;Menchaca-Rocha, A.;Meng, Q.;Mikhailov, V. V.;Molero, M.;Mott, P.;Mussolin, L.;Negrete, J.;Nikonov, N.;Nozzoli, F.;Ocampo-Peleteiro, J.;Oliva, A.;Orcinha, M.;Palermo, M.;Palmonari, F.;Paniccia, M.;Pashnin, A.;Pauluzzi, M.;Pensotti, S.;Plyaskin, V.;Pohl, M.;Poluianov, S.;Qin, X.;Qu, Z. Y.;Quadrani, L.;Rancoita, P. G.;Rapin, D.;Conde, A. Reina;Robyn, E.;Rosier-Lees, S.;Rozhkov, A.;Rozza, D.;Sagdeev, R.;Schael, S.;von Dratzig, A. Schultz;Schwering, G.;Seo, E. S.;Shan, B. S.;Siedenburg, T.;Song, J. W.;Song, X. J.;Sonnabend, R.;Strigari, L.;Su, T.;Sun, Q.;Sun, Z. T.;Tacconi, M.;Tang, X. W.;Tang, Z. C.;Tian, J.;Ting, Samuel C. C.;Ting, S. M.;Tomassetti, N.;Torsti, J.;Urban, T.;Usoskin, I.;Vagelli, V.;Vainio, R.;Valencia-Otero, M.;Valente, E.;Valtonen, E.;Vázquez Acosta, M.;Vecchi, M.;Velasco, M.;Vialle, J. P.;Wang, C. X.;Wang, L.;Wang, L. Q.;Wang, N. H.;Wang, Q. L.;Wang, S.;Wang, X.;Wang, Yu;Wang, Z. M.;Wei, J.;Weng, Z. L.;Wu, H.;Xiong, R. Q.;Xu, W.;Yan, Q.;Yang, Y.;Yashin, I. I.;Yelland, A.;Yi, H.;Yu, Y. M.;Yu, Z. Q.;Zannoni, M.;Zhang, C.;Zhang, F.;Zhang, F. Z.;Zhang, J. H.;Zhang, Z.;Zhao, F.;Zheng, C.;Zheng, Z. M.;Zhuang, H. L.;Zhukov, V.;Zichichi, A.;Zuccon, P.
2023
Abstract
We present the precision measurements of 11 years of daily cosmic electron fluxes in the rigidity interval from 1.00 to 41.9 GV based on 2.0×108 electrons collected with the Alpha Magnetic Spectrometer (AMS) aboard the International Space Station. The electron fluxes exhibit variations on multiple timescales. Recurrent electron flux variations with periods of 27 days, 13.5 days, and 9 days are observed. We find that the electron fluxes show distinctly different time variations from the proton fluxes. Remarkably, a hysteresis between the electron flux and the proton flux is observed with a significance of greater than 6σ at rigidities below 8.5 GV. Furthermore, significant structures in the electron-proton hysteresis are observed corresponding to sharp structures in both fluxes. This continuous daily electron data provide unique input to the understanding of the charge sign dependence of cosmic rays over an 11-year solar cycle.
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 598/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
