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Using the Y-function method, this paper experimentally investigates the effects of total ionizing dose up to 1 Grad on the channel mobility of a commercial 28-nm bulk CMOS process.
Zhang, C., Jazaeri, F., Borghello, G., Mattiazzo, S., Baschirotto, A., Enz, C. (2018). Mobility Degradation of 28-nm Bulk MOSFETs Irradiated to Ultrahigh Total Ionizing Doses. In Proceedings of 2018 IEEE International Conference on Integrated Circuits, Technologies and Applications, ICTA 2018 (pp.162-163). Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. [10.1109/CICTA.2018.8705713].
Mobility Degradation of 28-nm Bulk MOSFETs Irradiated to Ultrahigh Total Ionizing Doses
Zhang C. -M.
;Jazaeri F.;Borghello G.;Mattiazzo S.;Baschirotto A.;Enz C.
2018
Abstract
Using the Y-function method, this paper experimentally investigates the effects of total ionizing dose up to 1 Grad on the channel mobility of a commercial 28-nm bulk CMOS process.
Zhang, C., Jazaeri, F., Borghello, G., Mattiazzo, S., Baschirotto, A., Enz, C. (2018). Mobility Degradation of 28-nm Bulk MOSFETs Irradiated to Ultrahigh Total Ionizing Doses. In Proceedings of 2018 IEEE International Conference on Integrated Circuits, Technologies and Applications, ICTA 2018 (pp.162-163). Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. [10.1109/CICTA.2018.8705713].
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/10281/290449
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 598/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
