Bicocca Open Archive

Logo unimib boa

Chaigneau, M., Vanacore, G., Bollani, M., Picardi, G., Tagliaferri, A., Ossikovski, R. (2015). 20nm-Resolved Stress Profile in SiGe Nano-Stripes Obtained by Tip-Enhanced Raman Spectroscopy. In M. Lamy de la Chapelle, P.G. Gucciardi, N. Lidgi-Guigui (a cura di), Handbook of Enhanced Spectroscopy. Pan Stanford Publishing.

20nm-Resolved Stress Profile in SiGe Nano-Stripes Obtained by Tip-Enhanced Raman Spectroscopy

Vanacore, GM;
2015
Capitolo o saggio
Tip-Enhanced Raman Scattering; SiGe nanostructures; strain mapping; nanometer resolution
English
Handbook of Enhanced Spectroscopy
Lamy de la Chapelle, M; Gucciardi, PG; Lidgi-Guigui, N
2015
9789814613323
Pan Stanford Publishing
Chaigneau, M., Vanacore, G., Bollani, M., Picardi, G., Tagliaferri, A., Ossikovski, R. (2015). 20nm-Resolved Stress Profile in SiGe Nano-Stripes Obtained by Tip-Enhanced Raman Spectroscopy. In M. Lamy de la Chapelle, P.G. Gucciardi, N. Lidgi-Guigui (a cura di), Handbook of Enhanced Spectroscopy. Pan Stanford Publishing.
none
03 - Contributo in libro
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/10281/253519
Citazioni
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
Social impact