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EnglishBinetti, S. (2016). Photoluminescence and Raman spectroscopy for defect identification in Silicon, Cu(In,Ga)Se_2 and Cu_2ZnSnS_4. Intervento presentato a: Advanced Characterization for PV, CHEETACH workshop, Freiburg, Germany.
| Citazione: | Binetti, S. (2016). Photoluminescence and Raman spectroscopy for defect identification in Silicon, Cu(In,Ga)Se_2 and Cu_2ZnSnS_4. Intervento presentato a: Advanced Characterization for PV, CHEETACH workshop, Freiburg, Germany. | |
| Tipo: | slide | |
| Carattere della pubblicazione: | Scientifica | |
| Presenza di un coautore afferente ad Istituzioni straniere: | No | |
| Titolo: | Photoluminescence and Raman spectroscopy for defect identification in Silicon, Cu(In,Ga)Se_2 and Cu_2ZnSnS_4 | |
| Autori: | Binetti, S | |
| Autori: | BINETTI, SIMONA OLGA (Corresponding) | |
| Data di pubblicazione: | 2016 | |
| Lingua: | English | |
| Nome del convegno: | Advanced Characterization for PV, CHEETACH workshop | |
| Appare nelle tipologie: | 02 - Intervento a convegno |
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